关于台易
公司简介
组织架构
发展历程
团队介绍
公司优势
公司荣誉
产品中心
半导体高频测试探针
双头测试探针
ICT在线测试针套
界面直通测试探针
普通PCB弹簧测试探针
汽车电池大电流针
汽车电子线束针
消费类电子充电针
信号传输射频针
治具定位针
品质系统
专利认证
品质流程
应用领域
产品应用
行业应用
常见问题
新闻中心
公司新闻
行业动态
联系我们
联系方式
在线留言
自主研发无磁探针,不粘锡探针已成功应用于航空军工医疗等行业,已成为现代化高科技电子产品核心部件。产品主要应用于各类电子及其周边产品的测试如:半导体元器件、CPU芯片、PCB电路板、LCD屏幕、Camera摄像头、IOT.物联网汽车,及其它周边电子产品的在线测试。
单摄模组两层测试治具简介
单摄模组两层测试治具,主要用于单摄模组的调焦、影像、烧录等测试。 1.单摄两层治具,结构简单,操作方便,能有效提高测试效率; 2.模组限位部分做成镶块结构,方便更换维护; 3.针座部分采用浮动结构,能有效地保护探针,从而延长探针使用寿命; 4.治具包含开盖检测功能,能有效防止撞机,避免对治具及机台造成损伤; 5.根据实际测试需求,治具可增加接地或者阻抗测试; 6.根据不同机台的测试要求,治具可分为LENS朝上或者朝下测试两种结构。
2022-04-24
多颗模组三层测试治具简介
多颗模组三层测试治具,主要用于多颗模组的影像、烧录、标定等测试。 1.三层治具能有效解决两层治具连接器容易压伤的问题; 2.模组水平测试,治具竖直摆放时,能防止产品掉料; 3.一个治具,同时放两颗或者多颗模组测试,能有效提高测试效率,节约治具成本; 4.治具采购双卡勾/多卡勾,方便开合盖,减少治具缝隙,保证测试稳定性; 5.每个模组均单独限位,针盘做成独立结构,保证治具测试稳定性; 6.模组限位部分做成镶块结构,方便更换维护; 7.针座部分采用浮动结构,能有效地保护探针,从而延长探针使用寿命; 8.治具包含开盖检测功能,能有效防止撞机,避免对治具及机台造成损伤; 9.根据不同机台的测试要求,治具可分为LENS朝上或者朝下测试两种结构。
连接器异向双摄/三摄模组测试治具简介
连接器异向双摄/三摄模组测试治具,主要用于连接器异向模组的影像、烧录、标定等测试。 1.治具上下均含有连接器测试针座,独立结构; 2.模组限位部分做成镶块结构,方便更换维护; 3.针座部分采用浮动结构,能有效地保护探针,从而延长探针使用寿命; 4.治具包含开盖检测功能,能有效防止撞机,避免对治具及机台造成损伤; 5.根据不同机台的测试要求,治具可分为LENS朝上或者朝下测试两种结构。
ASM AA测试治具简介
ASM AA测试治具主要用于单颗模组AA组装。 1.治具为垂直下压结构,结构简单,测试稳定; 2.针座部分采用浮动结构,能有效地保护探针,从而延长探针使用寿命; 3.根据实际需求,夹爪可设计成通电结构; 4.治具搭配ASM机台使用,适用于各种AA类型的模组,具有精度高,效率高等优点。
2022/04/24
咨询热线
400-812-7599
邮箱
lan@lannyi.com
台易电子 - 半导体测试探针制造工厂
顾客至上 品质为本 团结合作 互利共赢
半导体高频测试针
双头测试针
ICT针在线测试针
界面直通测试针
普通PCB弹簧测试针
品质认证