自主研发无磁探针,不粘锡探针已成功应用于航空军工医疗等行业,已成为现代化高科技电子产品核心部件。产品主要应用于各类电子及其周边产品的测试如:半导体元器件、CPU芯片、PCB电路板、LCD屏幕、Camera摄像头、IOT.物联网汽车,及其它周边电子产品的在线测试。

IC测试座特点介绍

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  IC测试座有哪些特点?

  IC测试座主要可以用于进行检查在线单片IC元器件和各电路通过网络的开短路情况,以及技术模拟器件功能和数字器件逻辑系统功能分析测试。用户是在测试过程中在恶劣的环境条件下完全实现设计规范中规定的功能和性能指标。简单来说,就是测试芯片的资质。

  用于IC封装后测试的IC测试座主要包括相互组装的上盖板(接触片)和底座(ic座)。在优选实施状态中,IC测试座用于图像传感器(ImageSensor)中陶瓷引线芯片载体的封装和测试。

  该IC测试座,其特征在于上盖板(接触片)内部设有通孔,多个测试探针靠近通孔设置,用于接触待测IC,每个测试的内部探针是 提供了一个测试弹簧。测试探针布置在通孔周围。

  IC测试座用于将程序烧录到芯片中,烧录需要编程器的配合。将IC测试插座放入编程器的插座中,然后将IC芯片放入插座进行编程。那么集成电路测试台的作用是什么?

  IC测试座的功能包括:

  小至 0.3 mm 的探针球可定制封装到现有设备表面;

  双面测试;

  有多种顶盖样式可供选择;

  适用于显微检测的超薄顶盖;

  多种不同类型的弹簧进行测试探针,满足企业大多数学生需求(无铅、低电感、高强度、大电流、开尔文测试信息插座等;

  测试座:

  打开IC测试座进行回火;

  用于射频表征和测试的低电感测试探头;

  用于无铅封装的高强度顶针;

  IC 测试插座具有内置开口,便于元件放置。

  IC测试插座是为了在测试过程中在恶劣的环境条件下完全实现设计规范中规定的功能和性能指标。是一种标准的测试设备,用于测试在线元件的电气性能和电气连接,以检查制造缺陷和有缺陷的元件。

  IC测试座采用手动转动结构和自动按压结构,转动盖盖上的IC压板采用弹簧按压结构,可自动调节向下压力,保证IC按压均匀。

  探头特殊的头形突起可以刺穿焊球的氧化层,接触可靠不损坏焊球。高精度产品定位槽或导孔,确保IC定位进行准确,生产工作效率高,可更换一个探针,维护管理方便,成本低。